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簡析試驗箱的驗收試驗方法
發布時間: 2016-01-15  點擊次數: 1671次
簡析試(shi)驗(yan)箱的(de)驗(yan)收試(shi)驗(yan)方法
上海雙旭電子有限公司

 高(gao)低溫試(shi)驗(yan)箱驗(yan)收試(shi)驗(yan)方法:

1\主要測試儀器與裝置:

1.1風速儀:感應量應不(bu)低于0.05m/s的風速儀

1.2溫(wen)度計:采用鉑電(dian)(dian)阻、熱電(dian)(dian)偶(ou)或(huo)其他類似溫(wen)度傳感器(qi)組成的并滿(man)足下列要求的測溫(wen)系統:傳感器(qi)時間(jian)常數:20S~40S;測溫系統的擴展(zhan)不確(que)定度(K=2):不大于(yu)0.4

1.3表面(mian)溫度計:采用(yong)鉑電阻或其他類似傳(chuan)感器(qi)(qi)組(zu)成(cheng)并(bing)滿足下列要求的(de)測量系統(tong):傳(chuan)感器(qi)(qi)時間常數:20S~40S;測溫系統的擴展不確定(ding)度(K=2):不大于(yu)1.0

2測(ce)試條(tiao)件

2.1測(ce)試在(zai)空載條件(jian)下進行(xing)

2.2進行(xing)降溫(wen)速(su)率(lv)試(shi)驗時,環境溫(wen)度應(ying)當不(bu)高于25℃,冷動力溫度應(ying)不高于30

3、溫度(du)測(ce)試方法

3.1測試點的位置及數量

3.1.1在試驗箱工作(zuo)室(shi)內容定(ding)出上、中、下(xia)三個水平測試面,簡(jian)稱上、中、下(xia)層,上層與(yu)工作(zuo)室(shi)頂面的(de)距離(li)是工作(zuo)室(shi)高度的(de)1/10,中(zhong)層通(tong)過工作室幾何中(zhong)心,下(xia)層在(zai)zui低層樣品(pin)架上(shang)方10mm處。

3.1.2測試(shi)點位于三個(ge)測試(shi)面上,中心測試(shi)點位于工(gong)作室幾何中心,其余測試(shi)點到(dao)工(gong)作室壁(bi)的(de)(de)距(ju)離(li)為各自(zi)邊長的(de)(de)1/10,但對(dui)工(gong)作室(shi)容(rong)積不大于1立(li)方米的試驗箱,該距(ju)離不小(xiao)于(yu)50mm

3.1.3測試點的數量(liang)與工作室(shi)容積大小(xiao)的關系為:工作室(shi)容積不大于2立方米時,測(ce)試點(dian)為(wei)9個(ge);工作(zuo)室容積大于2立方米時,測試點為(wei)15個;當工(gong)作室(shi)容積大于50立方米時,溫度測試點的數(shu)量可(ke)以(yi)適當(dang)增加

4、測試程序

4.1在試驗箱(xiang)溫(wen)度可調范圍內(nei),選取zui高(gao)標(biao)稱(cheng)溫(wen)度和zui低標(biao)稱(cheng)溫(wen)度

4.2使喚試(shi)驗箱按先低溫(wen)(wen)(wen)后高溫(wen)(wen)(wen)的程序(xu)運行,在工作空間中心點的溫(wen)(wen)(wen)度達到測試(shi)溫(wen)(wen)(wen)度并穩(wen)定2H,在30分(fen)鐘(zhong)內第1分鐘測(ce)(ce)試所有測(ce)(ce)試點的(de)溫(wen)度1次,共測30

5、數據處理和試驗結果(guo)

5.1對測(ce)得的(de)溫度數據,按測(ce)試儀(yi)表的(de)修正值(zhi)進行修正

5.2剔除可疑數據(ju)

5.3對(dui)在溫(wen)度恒定階段測得(de)的數(shu)據計算每點30次測(ce)得值的(de)平均溫(wen)度

5.4計算溫度(du)梯度(du):溫度(du)平(ping)均值zui大值減去(qu)溫度(du)平(ping)均值zui小值

5.5計算溫度(du)波動度(du)、溫度(du)偏(pian)差

5.6試驗箱(xiang)控制儀表的設定值與中心測試值之差(cha)應(ying)滿足容許偏差(cha)要求。

6、工作室內壁與工作空(kong)間的(de)溫度差的(de)測試方法

6.1測試(shi)點布放位置及數(shu)量

6.1.1在工作(zuo)空間內何中(zhong)心布放一個(ge)溫度(du)傳感(gan)器(qi),在工作(zuo)室六面內壁幾何中(zhong)心各布放一個(ge)表面溫度(du)傳感(gan)器(qi)

6.1.2若工作室內壁(bi)中心(xin)有引線孔(kong)或(huo)其他裝(zhuang)置,則測(ce)試點與孔(kong)壁(bi)或(huo)其他裝(zhuang)置的距離應(ying)不小于100mm

6.2測試程(cheng)序

6.2.1在試(shi)驗(yan)箱(xiang)溫(wen)度(du)可調(diao)范圍內(nei),選用zui高標(biao)稱(cheng)溫(wen)度(du)和zui低(di)標(biao)稱(cheng)溫(wen)度(du)為測試(shi)溫(wen)度(du)

6.2.2在工作用空(kong)間幾何中心點的溫度*次達到測試溫度并(bing)穩定2H,每隔2分鐘(zhong)測試所有(you)測試點的溫(wen)度(du)值(zhi)一次,共(gong)測5次(ci) 6.3試驗(yan)結果的計算與評定

6.3.1將測(ce)試(shi)的溫度值(zhi)(zhi)按測(ce)試(shi)儀表(biao)的修(xiu)正(zheng)值(zhi)(zhi)修(xiu)正(zheng)

6.3.2分別計算各測試點溫度的算術平均值

6.3.3計算(suan)出(chu)工作室(shi)仙壁與工作室(shi)熱力學溫度之差(cha)的百(bai)分比

7、升、降(jiang)溫速率測試方法(fa)

7.1測試點為工作空間幾何中心點

7.2測試程序

7.2.1在試(shi)驗箱溫度(du)(du)可(ke)調范圍內,選取zui低標(biao)稱(cheng)溫度(du)(du)為zui低規(gui)定溫度(du)(du),zui高(gao)標(biao)稱(cheng)溫度(du)(du)為zui高(gao)規(gui)定溫度(du)(du)

7.2.2開啟冷源,使試驗箱由室溫(wen)降到zui低(di)規定(ding)溫(wen)度,穩定(ding)2H,調至zui高規定溫度(du),檢測(ce)試驗箱(xiang)溫度(du)從(cong)溫度(du)范圍的10%升到90%的時間;使試驗箱(xiang)在zui高規定溫(wen)度(du)下,穩定2H,再調至zui低(di)規定溫(wen)度(du)(du),檢測試(shi)驗箱(xiang)溫(wen)度(du)(du)從(cong)溫(wen)度(du)(du)范圍的90%降到10%的時間。

7.2.3 在升溫或降溫過(guo)程每1分鐘記錄溫度(du)值(zhi)1

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